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[期刊论文] 作者：简树基,
来源：半导体光电 年份：1987
在修理和计量中发现,由于选用和使用检流计仪表不当,会给监控炉温指零及测试微电流带来一个可观而不允许的温度误差和测试误差,直接造成工艺生产的重复性差。本文以实例说明...
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