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[期刊论文] 作者：胡子信,陈胜福,董伟淳,,
来源：中国集成电路 年份：2004
本文首先针对半导体可靠性测试项目一电迁移的基本原理、可靠性问题、电迁移效应的防护措施及失效判定作概括性的介绍。第二部分主要介绍自制电迁移自动测试系统开发的目的。...
[期刊论文] 作者：刘云海,简维廷,张荣哲,董伟淳,,
来源：中国集成电路 年份：2009
产品可靠性测试的失效分析是半导体失效分析的重要也是极具挑战性的部分。而物性失效分析前的预分析（包括电性失效分析）又是整个产品可靠性失效分析中的关键步骤。充分和合理的......
[期刊论文] 作者：冯军宏,简维廷,张荣哲,刘云海,董伟淳,,
来源：半导体技术 年份：2010
辐射引起的软失效一直是影响半导体可靠性的一个重大问题。特别是宇宙射线引起的在地球表面的高能中子,由于其特有的高穿透性很难有效屏蔽防护。介绍了其造成半导体器件软失...
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