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[期刊论文] 作者：蒋常斌,冯建科,,
来源：电子测试 年份：2009
介绍一种基于FPGA的测试系统远程控制实现方案,给出了系统总体设计和各个模块的设计框图。灵活的设计方法使其具有较好的适用价值和应用前景。...
[期刊论文] 作者：高剑, 郭士瑞, 蒋常斌,,
来源：电子测量技术 年份：2008
随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片的测试要求也越来越高。本文介绍了FLASH存储...
[期刊论文] 作者：姜岩峰,张东,蒋常斌,李杰,,
来源：电子测试 年份：2013
在电路设计中,器件和电路的性能和参数会随着制造工艺,电源电压,环境温度的改变而发生变化,随着集成度不断提高,这种偏差严重影响电路的成品率,增加了电路设计的复杂性和成本...
[期刊论文] 作者：蒋常斌,生晓坤,李杰,宋泽明,,
来源：电子测试 年份：2013
作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARMCortex-M3...
[期刊论文] 作者：蒋常斌,生晓坤,李杰,宋泽明,
来源：电子测试 年份：2013
作为32位RISC微处理器主流芯片，ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而，ARM芯片的测试需求更加强劲的同时，测试工作量在加大，测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARM Cortex—M3的...
[期刊论文] 作者：蒋常斌,冯建科,郭仕瑞,高剑,,
来源：现代电子技术 年份：2008
根据现代芯片制造和测试技术的趋势,论述当今混合信号测试的特点和要求,阐明国内外混合信号测试现状,探讨混合信号传统测试方法的不足。针对国内测试设备制造业的现实情况,提出一种新的混合信号测试方案,该方案基于高速数字信号处理技术,成本低廉、遵循标准化和......
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