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[期刊论文] 作者：蒲耀川,,
来源：甘肃科技纵横 年份：2006
阐述了半导体器件中金属化系统的失效模式和机理,提出了为消除金属化系统失效模式和提高金属化系统可靠性而采取的措施。...
[期刊论文] 作者：蒲耀川,
来源：甘肃科技 年份：2007
介绍了一款设计新颖的过压保护器件-可编程瞬时电压抑制器LT1511D,分析可编程瞬时电压抑制器LT1511D的工作原理、优点和工艺制作上的控制技术。...
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