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[期刊论文] 作者：蔡伟智,,
来源：电子质量 年份：2006
本文基于图示仪的检测原理,说明了其测量LED参数的方法,提出了在LED失效分析中图示仪几个特殊的应用和操作方法。...
[期刊论文] 作者：蔡伟智,,
来源：液晶与显示 年份：2005
总结了LX-A系列-LED道路交通灯的研制过程.讨论了LED驱动线路和连接方式,提出调光功能等的设计方案,分析了设计时应考虑的相关因素.科学的研制方案提高了LX-A系列-LED道路交...
[期刊论文] 作者：蔡伟智,,
来源：半导体技术 年份：2007
基于发光二极管(LED)所具有的特点,系统地总结出一套发光二极管失效分析方法,并给出了几个典型失效分析案例,简要阐述了失效分析过程中的注意事项。通过失效分析,进一步优化...
[期刊论文] 作者：蔡伟智,,
来源：半导体技术 年份：2009
采用X光双晶衍射仪分析了GaN基发光二极管外延材料晶体结构质量并制成GaN-LED芯片，对分组抽取特定区域芯片封装成的GaN-LED器件进行可靠性试验。对比分析表明，外延晶片中的微缺...
[期刊论文] 作者：蔡伟智,,
来源：电子质量 年份：2008
本文简述了发光二极管结构原理,对发光二极管开路失效模式进行全面分析,确定不同的失效机理及所对应的失效原因,并提出针对性的改善措施和筛选方法,达到提高发光二极管质量和...
[期刊论文] 作者：蔡伟智,,
来源：半导体技术 年份：2008
针对功率发光二极管（LED）的使用寿命问题,提出了利用阿仑尼斯模型预测功率发光二极管器件寿命的方法,以器件输出光功率P下降到初始值P0的50%为失效判据,通过对功率蓝光GaN LED...
[期刊论文] 作者：蔡伟智,
来源：电子工艺简讯 年份：1994
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[期刊论文] 作者：蔡伟智,
来源：国际医药卫生导报 年份：2007
目的探讨在临床上应用直肠指诊技术作为了解病情帮助诊断的临床价值。方法回顾性分析具有肛诊指征而行直肠指诊中76例阳性体征的临床资料。结果在内、外、妇、儿各科许多常见...
[期刊论文] 作者：蔡伟智,
来源：国际医药卫生导报 年份：2007
目的 探讨应用安氏化痔液注射加外痔血栓剥离治疗嵌顿痔的临床价值.方法 回顾性分析68例嵌顿痔应用安氏化痔液注射加外痔血栓剥离的临床治疗资料.结果 68例嵌顿痔病人早期采取安氏化痔液加外痔血栓剥离的全部病例均于1周内痊愈.结论 安氏化痔液注射加外痔血栓剥......
[期刊论文] 作者：蔡伟智,
来源：国际医药卫生导报 年份：2006
目的探讨急性期切开内口治疗肛门直肠周围脓肿手术方法的效果。方法回顾性分析83例急性期肛门直肠周围脓肿应用切开内口治疗的临床资料。结果83例急性期应用切开内口的手术治...
[期刊论文] 作者：蔡伟智,
来源：国外电子元器件 年份：1996
微型全集成化红外遥控接收器蔡伟智１、简介微型全集成化红外遥控接收解调电路模块（以下简称集成红外遥控接收器），将红外接收二极管、前置放大器以及解调电路等集成在同一基片上。......
[期刊论文] 作者：蔡伟智,
来源：家庭电子 年份：1996
本文介绍一种新颖的保护视力电子节能台灯电路。它采用电子镇流器推动两只8W荧光灯,以获得较高的照明质量。电路主要特点: 1.在额定电压下,本电路单灯耗电仅为40mA,而采...
[期刊论文] 作者：蔡伟智,,
来源：电子质量 年份：2007
本文简要地描述发光二极管金丝引线键合过程，讨论分析了影响其键合可靠性的主要因素，说明了键合质量的评价方法，提出了增强键合可靠性的措施，以达到提高发光二极管寿命的目的。......
[期刊论文] 作者：蔡伟智,
来源：电子质量 年份：2005
本文基于LED光谱曲线测试原理,提出了LED峰值波长的校验比对方法,分析了发光二极管LED和半导体激光二极管LD作为参考标准灯遇到的问题,并讨论相应技术解决方案....
[会议论文] 作者：蔡伟智,
来源：第九届全国LED产业研讨与学术会议 年份：2004
超高亮发光二极管的产生,为其应用产品——道路交通灯提供了器件条件.本文从LED负载电路设计、自动调光设计、光学设计、可靠性设计方面介绍了LX-A系列LED道路交通灯的研制....
[会议论文] 作者：蔡伟智,
来源：2007年中国(厦门)LED照明与装饰论坛暨城市夜景建设研讨会 年份：2007
简要地说明了发光二极管失效分析的一般程序,讨论分析了发光二极管的典型失效模式和失效机理,提出了增强可靠性的措施,以达到提高发光二极管寿命的目的。...
[会议论文] 作者：蔡伟智,
来源：第十一届全国LED产业与技术研讨会 年份：2008
本文阐述了二个常用的LED器件失效物理模型，采用这些模型对几个LED失效模式和失效机理进行分析，并说明相应的可靠性改善方法，给出LED可靠性试验条件及其可靠性筛选原理。...
[期刊论文] 作者：蔡伟智,陈晓玲,梁奋,
来源：电子质量 年份：2004
介绍了LED寿命试验系统建立过程,提出了寿命试验条件,采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试验台不但操作简便、安全,而且试验容量大。完善的试验方案,消除可能影响寿命试验...
[会议论文] 作者：梁奋,陈晓玲,蔡伟智,
来源：第十二届全国LED产业研讨与学术会议(2010’LED) 年份：2010
针对发光二极管(LED)芯片寿命试验存在的问题，提出了一种发光二极管芯片寿命试验方法。将芯片直接浸入液体中，即液体为芯片寿命试验的环境介质，从而排除了影响芯片光输出退化的......
[会议论文] 作者：蔡伟智,梁奋,时军朋,赵来文,
来源：第十四届全国LED产业发展与技术研讨会 年份：2014
本文分析了LED芯片光输出退化机理,分组抽取LED芯片进行光退化试验,通过实验验证了LED芯片光输出退化的小电流现象.利用此现象扩大了LED外延工艺设计和日常生产的试验监控范...
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