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[会议论文] 作者：蔡振新;赵洋;,
来源：第五届中国国际防雷论坛 年份：2006
近儿年来，随着信息技术的快速发展，各种各样的电子设备被大量应用到各个领域。电子设备的集成度的急速提高使得其功能愈来愈强大，但其对雷电电磁脉冲的抵抗能力却因此大大下降。......
[会议论文] 作者：蔡振新,赵洋,任晓明,
来源：第四届中国国际防雷论坛 年份：2005
本文主要对RJ45信号SPD插入损耗、回波损耗、近端串扰试验(NEXT)进行了讨论。文章围绕回波损耗测试回波损耗和热稳定性试验进行了论述。...
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