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[期刊论文] 作者：蔡晴 薛小刚 于晓光 周皇 郭理超,
来源：名城绘 年份：2018
摘要：周边黑Mura是在TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display）面板信赖性测试过程中较为常见的一种不良，对产品画面品质影响较大，文章结合实际生产情况通过理论分析和实验验证来说明，通过优化有机层边缘设计改善信赖性高温高湿过程中产生的周边黑Mura。......
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