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[期刊论文] 作者：薛仁经,,
来源：控制工程 年份：1998
钽电容器在军用电子整机中应用量很大。钽电容器分为固体钽电容器(本文简称固钽)和液体钽电容器(本文简称液钽)。笔者自70年代参加工作以来,早期有禁用液钽的说法,近来...
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：质量与可靠性 年份：2002
简述了电子器件的新产品进行“鉴定检验”和“质量一致性检验”的重要作用，通过国内外电子器件工作寿命试验及其要求的比较和分析，说明了军用电子器件必须进行高温1000h稳态寿......
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：控制工程（北京） 年份：1993
整机可靠性的基础是电子元器件的可靠性。只有应用高可靠的电子元器件,才能组成高可靠的整机及系统。只有高可靠的整机及系统,才能创造更高的经济效益。所以大力提高电子元器...
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：控制工程（北京） 年份：1992
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[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：控制工程（北京） 年份：1992
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[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：控制工程（北京） 年份：1994
一、目的本试验程序定义了钴60γ射线源对已封装好的集成电路进行电离辐射(总剂量)效应的要求。本程序提供评估低剂量率电离辐射对器件影响的加速老化试验。在器件有显...
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1992
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[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：质量与可靠性 年份：2001
简介了美国军用标准有关电子元器件、整机和系统应用可靠性方面的标准,并就其适用范围、总体结构和主要内容作了说明。...
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1995
1 引言 国内外对“小批量抽样试验”,都在进行研究,其目的为了保证小批量产品的质量和应用可靠性,又减少抽样数量及试验费用,这是现实提出的问题。 例如对卫星、导弹等...
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1995
提高各种微电子器件的抗静电水平关系到军用电子整机的固有可靠性和应用可靠性，已到了刻不容缓的地步，我们在“七专”高可靠ＣＭＯＳ器件抗静电攻关中研制成功“静电模拟器”，基本上达到......
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1991
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[期刊论文] 作者：薛仁经,,
来源：控制工程 年份：1995
根据二十多年来卫星上应用各种电容器的实践经验，总结以往使用过程中电器发生的失效及失效分析的结果，结合美国军标中提出的要求，必须对电容器的某些特殊失效进行深入研究，搞清失......
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：控制工程（北京） 年份：1994
提高各种微电子器件的抗静电水平关系到军用电子整机的固有可靠性和应用可靠性。502所在'七专'高可靠CMOS器件抗静电攻关中研制成功'静电模拟器',基本上达到...
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1994
1 引言锁定是一种效应,一旦发生就严重干扰集成电路的预期特性。锁定的灵敏度与所用的工艺关系很大,它是CMOS电路的一个重要特性。从外部能量源随机注入的载流子会触发...
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1994
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[期刊论文] 作者：薛仁经,,
来源：控制工程 年份：1994
1 目的 本试验程序是用钴60γ射线源对已封装好的集成电路进行电离辐射(总剂量)效应的要求。本程序提供评估低剂量率电离辐射对器件影响的加速老化试验。在器件有显著的时间...
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：质量与可靠性 年份：1996
“全面质量管理”已经提了十七年,变成老生常淡,但是人们常常认为“质量管理,是领导干部的事,与普通工人、技术人员无关”。从军工产品发生的各种大大小小的事故来看,光讲“...
[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：质量与可靠性 年份：1992
介绍了电子元器件因使用不当造成失效的事例,分析了使用不当引起失效的原因,提出了解决使用不当引起失效的问题的建议。...
[会议论文] 作者：薛仁经,
来源：中国电子学会电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会 年份：1985
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[期刊论文] 作者：薛仁经,
来源：质量与可靠性 年份：1992
介绍了电子元器件因使用不当造成失效的事例,分析了使用不当引起失效的原因,提出了解决使用不当引起失效的问题的建议。The case of failure caused by improper use of el...
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