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[学位论文] 作者：解庆昆,
来源：大连理工大学 年份：2018
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[期刊论文] 作者：苏映新,解庆昆,,
来源：中国新技术新产品 年份：2010
本文主要介绍半导体器件缺陷与噪声的关系。根据噪声电子学的知识和低频噪声检测半导体器件缺陷理论及其在实际中的应用,从原理上分析器件缺陷所引发的电路故障与噪声特性参...
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