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[期刊论文] 作者：詹光宇,
来源：微型计算机 年份：1997
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[期刊论文] 作者：詹光宇,师琦,薛旭杰,王宏伟,
来源：显示器件技术 年份：2002
本文论述了利用扫描电子显微镜进行X射线能谱分析的原理，并对CDT制造过程中荫罩堵孔物特征X射线能谱图进行分析对比，明确堵孔物的成分及来源，为不良对策提供依据。...
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