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[期刊论文] 作者：胡晨,许舸夫,等,
来源：电路与系统学报 年份：2002
本文提出了一种基于受控线性反馈移位寄存器（LFSR）进行内建自测试的结构及其测试矢量生成方法。使用受控LFSR可以跳过伪随机测试序列中对故障覆盖率没有贡献的测试矢量，众而达到......
[期刊论文] 作者：刘锋,胡晨,张萌,许舸夫,
来源：电子器件 年份：2003
针对图像数字水印技术 ,提出了一种实用的基于小波变换的图像数字水印嵌入方法 ,并在Matlab下得以验证。试验结果表明 ,该算法对图像非整体性的破坏有很强的鲁棒性...
[期刊论文] 作者：胡晨,许舸夫,张哲,杨军,
来源：电路与系统学报 年份：2002
本文提出了一种基于受控线性反馈移位寄存器(LFSR)进行内建自测试的结构及其测试矢量生成方法。使用受控LFSR可以跳过伪随机测试序列中对故障覆盖率没有贡献的测试矢量,从而...
[期刊论文] 作者：毛武晋,王澍,杨军,许舸夫,
来源：电子器件 年份：2002
本文提出了一种新的方法和综合技术用来去除多扫描链内建测试中由线形反馈移位寄存器引起的测试向量线性关联性.利用本方法可以高效的设计内建自测试中移位器并且保证足够扫...
[期刊论文] 作者：毛武晋,王澍,杨军,许舸夫,
来源：电子器件 年份：2002
本文提出了一种新的方法和综合技术用来去除多扫描链内建测试中由线形反馈移位寄存器引起的测试向量线性关联性。利用本方法可以高效的设计内建自测试中移位器并且保证足够扫...
[期刊论文] 作者：许舸夫,张哲,胡晨,毛武晋,刘锋,
来源：电子器件 年份：2002
本文提出了一种多重抑制的线性反馈移位寄存器(LFSR)结构来降低内建自测试(BIST)的功耗.这种结构通过矢量间的距离而不是矢量本身来抑制对测试没有贡献的测试矢量子序列.用来...
[期刊论文] 作者：许舸夫,张哲,胡晨,毛武晋,刘锋,
来源：电子器件 年份：2002
本文提出了一种多重抑制的线性反馈移位寄存器 (L FSR)结构来降低内建自测试 (BIST)的功耗。这种结构通过矢量间的距离而不是矢量本身来抑制对测试没有贡献的测试矢量子序列...
[期刊论文] 作者：杨军,时龙兴,胡晨,许舸夫,王佩宁,
来源：电子器件 年份：2001
随着集成电路工艺复杂性和规模复杂度的提高 ,芯片测试变得越来越困难 ,而可测性设计可以用来简化测试 ,降低测试成本。但是可测性设计将加大设计的难度 ,必须通过可测性设计...
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