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[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1991
《微电子学与计算机》编辑委员会会议于1991年4月19日在骊山微电子学研究所召开.会议由航空航天部科技委副主任、《微电子学与计算机》编委会主任委员梁思礼主持,编委会委员...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1987
板极模拟的主要障碍是缺乏可供模拟器访问的数据席和模型。摸型是告诉模拟器元件在逻辑上对给定的输入起什么作用及零件的定时特性——进行模拟的重要信息。最近才有了对复杂...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1987
可测试性度量通常是不明确的,且难以选择,在分析可测试性的许多方法中,都是试图计算为了激活网络的一个故障并将其影响传播到一个可观察的输出所需要的结点数目,然后用可控...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：2004
实验了集成注入逻辑单元,以确定它暴露于伽玛总剂量辐照环境之后的特性。这些特殊器件不以辐照加固为目的设计或制造。在100毫微安到300微安电流范围内,作为剂量函数测量了横...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：2004
要使CMOS器件的几何尺寸小于1μM、P沟部分是一个明显的障碍。过份缩小会损害整个器件的完整性,例如会引起自锁。另一个问题是“鸟嘴”,鸟嘴占据面积,因而限制了密度。最近,...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1987
从六十年代中期的电阻—晶体管逻辑(RCL)电路开始,20年来,标准逻辑电路技术不断发展.在多半时间里,继RTL 之后的高性能双极电路引人注目,但在八十年代,CMOS 技术力争超过双...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1987
无意触发的寄生SCR 器件会导致CMOS 器件闩锁,这会招致过量的电流并可能毁坏CMOS 芯片。图1的测试电路使CMOS 器件经受交流和直流(正负电源)闩锁情况,让你能测试器件的闩锁...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1990
到目前,只有具有昂贵的硬件模拟器或有足够的时间来运行软工具的人才可能作故障模拟.Intrins ix 公司的Fas-Fault 系列故障模拟工具将基于硬件的核心部分与一套有效的软件相...
[期刊论文] 作者：谈晓云,,
来源：微电子学与计算机 年份：1990
尽管CMOS器件在速度上和砷化镓器件在集成度上有固有的优势,但双极ECL仍是速度关键的 VLSI 所选用的技术。从主计算机数据通路和超高速缓冲存贮器到自动测试设备及光波传输...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1989
Systolic阵列是一种典型的并行结构:这种方法通过减少处理元之间的通讯使计算加速。事实上,一个Systolic阵列是处理元的一条n维“装配线”,在这里,每个处理元执行一个大工作...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1989
Flash俘贮器技术产生在系统内能被变更的非易失的高容量器件。现在已开发了几种生产Flash存贮器的途径。Intel公司的型号叫做隧道氧化物型EPROM(ETOX-EPROM-tunnel Oxide)....
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1984
MK68901提供各种速度的68000系统所需的许多I/O功能而不需附加接口部件.这种48条插脚的集成电路除有一个晶体振荡器外。还包含4个具有独立的预置和输出的可编程计时器—计数...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1987
Siliconix 公司推出S16000 2μm CMOS 门阵列系统库,其格式适合在与IBM PC 相容的系统中运行.用Futurenet Dash3 软件取得草图,模拟用P-SILOS 逻辑模拟程序实现.Siliconix...
[期刊论文] 作者：谈晓云,,
来源：微电子学与计算机 年份：1989
“transpurer”一词是由transistor(晶体管)和computer(计算机)两词组合而成.这是一种新型的器件.这种做在一块晶片上的完整的单片微机,能象晶体管一样,作为基本元件来构成...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：2004
“瞬态”(flash)编码电路可能是编码速度最快的一种模/数转换器。在此电路中,并连的2~(n-1)个比较器以2~n个电阻的参考链为参考并行操作,同时完成“瞬态”转换,n为二进制位(...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1987
目前,Supertex 公司正在制作一种可处理高达400V 电压的CMOS IC.该电路采用一种结隔离工艺.用此工艺提高了结的雪崩击穿电压,同时减小了闩锁的可能.闩锁效应使以前的CMOS 器...
[期刊论文] 作者：谈晓云,
来源：微电子学与计算机 年份：1987
全国第四属IC CAD 学术年会于1987年9月15日至18日在哈尔滨市举行.出席这次会议的有全国从事IC CAD 的专家、学者及青年科学工作者140人.会议上宣读了论文112The fourth n...
[期刊论文] 作者：Jonah McLeod,谈晓云,,
来源：微电子学与计算机 年份：1988
一种新的诊断工具有可能使亚微米VLSI器件样品的调试时间减少数周,这就是美国SentrySchlumberger公司的集成诊断系统IDS 5000。该系统使用一个电子束探针,并将来自于一个复...
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