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[会议论文] 作者：赵志明[1]王志光[2]宋银[2]金运范[2]孙友梅[2],
来源：第二届全国反应堆物理与核材料学术研讨会 年份：2005
先用120 keV的碳离子注入非晶二氧化硅a:SiO2薄膜, 再用能量为1 754 MeV 的 Xe离子辐照.注碳量为5.0×1016-8.6×1017 ion/cm2, Xe离子辐照剂量为1.0×1011和5.0×1011 ion/c...
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