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[期刊论文] 作者：赵榆轩,
来源：兵工学报(引信分册) 年份：1984
对贮存14～15年以上的各种引信射击及分析检查证实:引信经长期贮存后会不同程度地出现可靠性失效,其失效率与所用机构、元件、材料有关。长期贮存后失效率总的趋势如下:机构为...
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