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[期刊论文] 作者：阙端麟, 赵榕椿, 姚野, 陈修治,,
来源：浙江大学学报 年份：1985
红外高频光电导衰减法测试硅单晶少数载流子寿命是优越的方法;但使用GaAs:Si发光二极管(LED)时因其波长(0.94μ)太短不适宜作长寿命样品测试。理论分析和实验数据都证明1.09...
[期刊论文] 作者：阙端麟,赵榕椿,张锦心,施春洪,姚野,,
来源：浙江大学学报 年份：1982
本文介绍高频光电导衰减法硅单晶少子寿命测试技术的改进。利用红外发光二极管作为闪光源,获得了合适的光强和0.5～1微秒的短余辉。电路的改进增加了仪器的灵敏度,因此可较方便...
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