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[学位论文] 作者：邓秋辉,,
来源：浙江大学 年份：2017
近年来,随着集成电路的集成度越来越高,电路的结构和功能越来越复杂。在芯片的开发过程中,能否高效且完备的对芯片进行验证已成为制约芯片的质量、开发成本和设计周期的关键...
[期刊论文] 作者：邓秋辉,罗小华,
来源：传感器与微系统 年份：2018
为缩减测试用例规模，降低回归测试成本，将遗传算法和贪心算法相结合，提出了一种混合遗传算法用于解决测试用例最小化问题。算法对标准遗传算法中的选择、交叉和变异操作进行改善......
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