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[期刊论文] 作者：郭众宝,孙远翔,唐永刚,
来源：机电产品开发与创新 年份：2005
本文介绍了基于单片机技术的漏磁检测系统.首先介绍了漏磁检测的原理,然后结合电子电路技术,单片机技术,开发了一套漏磁检测实验系统.该系统包括信号的采集,预处理,模/数转换...
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