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[期刊论文] 作者：顾连学,,
来源：核电子学与探测技术 年份：1982
本文介绍一种符合分辨时间小于0.5ns、计数率大于5Mc/s、传输时间约40ns的快符合电路。...
[期刊论文] 作者：顾连学,乐安全,
来源：核技术 年份：1990
本文通过分析同位素X射线荧光分析仪的工作条件和谱形的关系,来判选仪器的正确工作条件,以此提高仪器系统长期测量精确度。...
[会议论文] 作者：汪立人;顾连学;,
来源：全国核电子学与核探测器学术会议 年份：1984
棉条重量测定仪由检测盒，探测器、放大器、甄别器、接口和计算器组成。其测量原理是：穿过被测介质到达探测器的辐射强度I与无吸收介质时探测器上的辐射强度Io之间存在如下关系：I......
[期刊论文] 作者：顾连学,林金站,
来源：电子与自动化 年份：1993
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[期刊论文] 作者：乐安全,谷英梅,顾连学,
来源：核技术 年份：1990
本文简要介绍了黄铜镀层成份分析仪的测量原理和结构。它能快速、无损、精确地测定铁、镍基底上黄铜镀层(厚度为3—5μm)中的铜、锌百分含量,分析铜含量的精确度为0.6％。测量...
[期刊论文] 作者：沈立人,林金锌,钱春梁,顾连学,
来源：核技术 年份：1992
多道分析器(MCA)是核实验和核技术应用中极为重要的分析仪器.现大多数为基于微机的系统,由于这些系统中绝大部分所配量的软件均由汇编语言编写,因此无论从可读性、通用性、移...
[期刊论文] 作者：顾连学,江立人,林金锌,王裕政,
来源：核电子学与探测技术 年份：1986
在需要对核事件脉冲信号进行计数,又要使用微机对其数据处理的场合,一种是按传统的办法,把信号送到专用的定标器进行计数累积,当计数结束,再把定标器累积的数据送别微机进行...
[期刊论文] 作者：顾连学,乐安全,谷英梅,林金锌,
来源：核技术 年份：1990
本文通过分析同位素X射线荧光分析仪的工作条件和谱形的关系,来判选仪器的正确工作条件,以此提高仪器系统长期测量精确度。In this paper, we analyze the relationship be...
[期刊论文] 作者：林金锌,王裕政,江立人,顾连学,乐安全,
来源：核电子学与探测技术 年份：1987
磁盘存贮器是电子计算机的主要外部设备,高密度大容量磁盘存贮器的研制和生产是发展计算机事业的重要组成部分。磁盘磁介质层的厚度,直接影响磁盘的信息记录密度和输出信号的...
[期刊论文] 作者：林金锌,王裕政,江立人,顾连学,乐安全,
来源：核技术 年份：1986
利用X射线荧光和微机技术研制成涂层测厚仪。本文叙述了仪器的构造原理。它能够快速、非破坏和精确测量金属或非金属零件上的多种涂层厚度。如对磁盘磁层的测量范围M=50—500...
[期刊论文] 作者：顾连学,乐安全,谷英梅,江立人,韩发生,林金锌,
来源：核技术 年份：1988
本文介绍一种用微机控制的精密钛涂(镀)层厚度测定仪,测量范围为0.1—10μm,最小测量面直径为3mm,精度优于±5％。This article describes a microcomputer-controlled preci...
[期刊论文] 作者：王裕政,吴国栋,江立人,黄津兴,顾连学,钱春梁,
来源：核技术 年份：1985
本文叙述一种基于延迟线耦合读出的两维多丝正比室成像装置。它由多丝室、延迟线、主放大器、定时单道以及时幅变换器等组成。多丝室为流气式,其灵敏面积为20×20cm~2;丝室本...
[期刊论文] 作者：王裕政,吴国栋,林金锌,钱春梁,顾连学,黄津兴,
来源：核技术 年份：1987
本文叙述一种新型的放射性色层分析装置。它是以流气式位置灵敏正比计数器作为探测器代替了传统的机械扫描式的色层分析装置为其主要特征。可以快速分析纸条、硅胶板及凝胶板...
[期刊论文] 作者：乐安全,江立人,顾连学,徐君权,韩发生,谷英梅,林金锌,
来源：核技术 年份：1986
在手表生产中,由于机芯零件的电镀层厚度难以控制,影响手表的装配精度、走时准确和使用寿命。尤其在每年黄梅季节,常发现零件生锈报废和手表返修除锈,这不仅影响手表美...
[期刊论文] 作者：乐安全,林金锌,朱节清,谷英梅,顾连学,韩发生,徐君权,王裕政,王志芳,
来源：核技术 年份：1991
本仪器利用X射线荧光分析原理和微机技术研制而成的。以小型X射线管作激发源,射线用小孔准直,样品用光学定位,样品最小测量面直径为0.1mm。微机多道实时显示能谱。它能快速、...
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