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[会议论文] 作者：魏铭鉴,
来源：第六届全国X射线分析学术会议 年份：1995
...
[会议论文] 作者：魏铭鉴,
来源：第七届全国X射线衍射学术会议 年份：1998
在小角散射中，常用Guinier（以后间称G）近似求粒度，一般认为角度越小，近似程度会越高。但G近似是在忽略了粒子间干涉的前题下得到的，而角度越小干涉效应也越大。因而在小角处，不能用G......
[期刊论文] 作者：孙文华,魏铭鉴,
来源：分析测试学报 年份：1996
本实验用Ｘ射线衍射外标法测定了极微量（０．１～５ｍｇ）呼吸尘埃中游离晶态α－ＳｉＯ２的含量，其精确度（相对偏差）小于１０％，达到常规微量（５～１０ｍｇ）样品的分析精确度。......
[期刊论文] 作者：魏铭鉴,孙文华,
来源：分析测试仪器通讯 年份：1997
对双晶衍射仪实行改造，用一台ＰＣ４０１微机直接控制和进行小角散射等测量，实现了自动测量，数据处理及显示，输出等多种功能，扩大了应用范围，提高了测量效率。...
[期刊论文] 作者：陈岩,魏铭鉴,,
来源：Journal of Wuhan University of Technology-Materials Science 年份：1987
For the determination of particle size distribution of super-micro colloidal SiO_2 Sol,SAXS techni-q (?)has been applied to solving the problem.The two differe...
[期刊论文] 作者：邢伟宏,魏铭鉴,
来源：新型建筑材料 年份：1994
本文采用粉煤灰为主要原料，根据粉煤灰的特性，选择了合理的配合料，在较低的烧成温度下研制出性能的粉煤灰陶瓷墙地砖。通过Ｘ射线衍射和扫描电镜分析，较为详细地研究了粉煤灰墙地砖......
[会议论文] 作者：魏铭鉴,许曼华,
来源：湖北省物理学会·武汉物理学会成立70周年庆典暨2002年学术年会 年份：2002
这里提出个全新观念,认为量子力学就是用倒空间研究运动的力学,按这个观点,可对量子力学的基本观点,分析方法以及给出的结果等作出合理解释.为能较好的理解量子力学的实质,这...
[期刊论文] 作者：许曼华,魏铭鉴,
来源：物理学报 年份：1997
用小角散射测量粒度分布，通常假定颗粒形状是球形，实际上颗粒形状是很复杂的．统计地将颗粒形状归并为类球形、类盘形和类杆形三种．指出了计算形散函数的一般方法；并计算了类球形颗......
[期刊论文] 作者：魏铭鉴,邢伟宏,
来源：武汉工业大学学报 年份：1992
本文采用粉煤灰为主要原料,在较低的烧成温度下研制了性能优良的粉煤灰陶瓷墙地砖。着重研究了粉煤灰陶瓷的显微结构,分析了瓷体在烧成过程中的物理化学变化,探讨了粉煤灰陶...
[会议论文] 作者：魏铭鉴,许曼华,
来源：第八届全国X射线衍射学术会议 年份：2003
小角散射只测粒度大小的分布,不管颗粒在空间的分布;广角衍射则只测原子的空间分布,不管原子的大小.同是一个衍射理论,它们之间必然有相应的关系.本文指出:由颗粒自身的散射...
[期刊论文] 作者：孙文华,魏铭鉴,秦麟卿,
来源：武汉工业大学学报 年份：1994
本文提出一种测定纳米晶粒尺寸分布的新方法－分峰法，其可靠性用规定超微粉颗粒大小分布的Ｘ－射线小角散射法（ｓａｘｓ）进行了验证，并用它成功地测定了ＳｎＯ２薄膜和层状石墨的晶粒分布。In this pa......
[期刊论文] 作者：丁国庆,魏铭鉴,孙文华,崔光杰,
来源：光通信研究 年份：1995
双晶衍射摇摆曲线的全面分析需用计算机模拟高木方程能得到，其信息广但不直观。本文讨论了ＭＯＣＶＤ外延片Ｘ射线衍射中的干涉指纹，指出了用干涉指纹测试簿膜厚度的精确性，讨论了干涉指纹出......
[期刊论文] 作者：丁国庆,孙文华,魏铭鉴,崔光杰,
来源：半导体技术 年份：1995
讨论了ＭＯＣＶＤ外延膜Ｘ射线衍射摇摆曲线中干涉指纹的各种特征。指出了由干涉指纹测定薄膜最度的精确性。研究了影响干涉指纹的，为正确识辨材料结构和改进生长工艺提供方便。......
[期刊论文] 作者：王典芬,丁国庆,魏铭鉴,孙文华,
来源：分析测试学报 年份：1997
采用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）对ＩｎＧａＡｓＰ／ＩｎＰ异质结构金属有机化学蒸发沉积（ＭＯＣＶＤ）外延晶片作了表面元素组分定性、定量和深度分布分析。将其组分定量数据代入带隙经验公式，发现带隙的计算与用光压谱（ＰＶＳ）实验值......
[期刊论文] 作者：丁国庆,孙文华,魏铭鉴,崔光杰,
来源：半导体技术 年份：1995
讨论了ＭＯＣＶＤ外延膜Ｘ射线衍射摇摆曲线中干涉指纹的各种特征。指出了由干涉指纹测定薄膜厚度的精确性。研究了影响干涉指纹的因素，为正确识辨材料结构和改进生长工艺提供方便。Vari......
[期刊论文] 作者：秦麟卿,吴伯麟,魏铭鉴,孙振亚,
来源：仪器仪表学报 年份：2001
根据 X射线小角散射 (SAXS)原理 ,采用分割分布函数法 ,测定了氧化铝粉末中的微孔尺寸 (4nm～ 2 30 nm )和尺寸分布。方法简单易行 ,合理可靠 ,能准确测定微孔的尺寸分布Acco...
[期刊论文] 作者：魏铭鉴,孙文华,张润雨,邓利辉,张原本,
来源：分析测试仪器通讯 年份：1997
对双晶衍射仪实行改造，用一台ＰＣ＿４０１微机直接控制和进行小角散射等测量。实现了自动测量、数据处理及显示、输出等多种功能，扩大了应用范围，提高了测量效率The transformation of do......
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