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[会议论文] 作者：Kai Behrens,Arnd Bühler,YING Xiao-hu,LI Zhong-shan,
来源：全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会 年份：2005
在XRFS中的"无标样分析"用有常规算法都是基于使用反映样品物理特性和激发条件的基本参数,考虑了基体效应之后首先计算理论强度,从而计算样品中被分析物的浓度....
[会议论文] 作者：Kai Behrens,Arnd Bühler,YING Xiao-hu,LI Zhong-shan,
来源：全国第六届X射线荧光光谱学术报告会与X射线光谱分析研讨会 年份：2005
波长色散XRFS(WD-XRFS)已经成为了分析家的有力工具,特别是对于碳氢基体中痕量元素的准确分析.但是由于需要专门的制备技术以及污染问题及严重的基体效应,工业中的日常分析受...
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