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[期刊论文] 作者：Arthur Chiang David Le,
来源：电子产品世界 年份：2013
开封问题 进行失效分析要先打开零件，看是什么原因引起器件失效，主要问题就出在开封方法上。传统的酸刻蚀开封方法并不适用于铜丝键合的产品，因为硝酸的烟气会导致铜丝的快速刻蚀，即如图1和图2所示。 保持铜丝及键合的完整是不可或缺的。我们尝试使用激光开封......
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