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Electrical mapping and structure analysis of lowtemperature tolerance related genes in Soybean (Glyc
[会议论文] 作者:D.W.Zhang,Z.M.Qi,C.Y.Shan,C.Y.Liu,G.H.Hu,O.S.Chen,
来源:第八届世界大豆研究大会暨第九届全国大豆学术讨论会 年份:2009
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Electrical mapping and structure analysis of lowtemperature tolerance related genes in Soybean (Glyc
[会议论文] 作者:D.W.Zhang,Z.M.Qi,C.Y.Shan,C.Y.Liu,G.H.Hu,O.S.Chen,
来源:第八届世界大豆研究大会暨第九届全国大豆学术讨论会 年份:2009
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