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[期刊论文] 作者：Chen Jian-Jun,Chen Shu-Ming,Liang Bin,Deng Ke-Feng,
来源：中国物理B（英文版） 年份：2012
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,Suppressing the hot carrier injection degradation rate in total ionizing dose effect hardened nMOSF
[期刊论文] 作者：Chen Jian-Jun,Chen Shu-Ming,Liang Bin,He Yi-Bai,Chi Ya-Qing,Deng Ke-Feng,
来源：中国物理B（英文版） 年份：2011
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