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[期刊论文] 作者：Eric Strid,李树森,,
来源：半导体情报 年份：1982
对低噪声测量技术作了精密的研究,讨论了失配的影响;介绍了有关低噪声GaAsFET放大器一些实际的测量方法,给出了一些便于检查的项目。The technique of low noise measureme...
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