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[会议论文] 作者：杨莉,Martin P Seah,Ian S Gilmore,
来源：第五届中国二次离子质谱学会议 年份：2014
利用二次离子质谱技术(Tof-SIMS)表征纳米颗粒具有广泛的应用前景.然而在分析过程中,当纳米粒子受到高能量的一次入射离子束轰击后而发生的熔融现象却一直没有得到重视.以核...
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