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[会议论文] 作者：翁惠民,J.D.Zhang,C.C.Ling,C.D.Beling,S.Feng,
来源：第八届全国正电子谱学会议 年份：2002
本文用慢正电子束技术研究Cu/SiC结构的结果.用多普勒展宽能谱线形S参数测量,从10K-300K改变样品的湿度测量不同温度的S-E曲线,发现在BK和245K时Cu/SiC结构存在双向相变的现...
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