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[会议论文] 作者：JinSong[1]靳松[2]HanYinhe[3]韩银和[4]XuQiang[5]徐强[6],
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
负偏置温度不稳定(NBTI)引发的动态参数偏差给集成电路的生命期可靠性带来严重威胁。已有的方法主要通过设计片上检测电路实时监测关键通路的时延偏差来阻止NBTI导致的电...
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