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[期刊论文] 作者：Jon Ewald,夏明威,,
来源：电子测试 年份：2004
随着半导体集成密度的提高及单位逻辑门成本的直线下降,使用可编程逻辑器件的系统所面对潜在的克隆和反向工程问题,已经成为真正的威胁.因此,系统设计人员必须时刻考虑知道产...
[期刊论文] 作者：Jon Ewald,夏明威,
来源：世界电子元器件 年份：2003
保护可编程逻辑设计免受攻击过去,军事项目是设计盗窃行为的主要攻击目标.但如今,知识产权(IP)保护已成为主流商用产品开发人员所关心的主要问题,以及消费电子制造商关心的重...
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