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[期刊论文] 作者：Lawrence N.Dworsky,许德荣,,
来源：宇航计测技术 年份：1985
众所周知,在晶体文献中,不平行的晶片表面将引起AT切谐振器性能的恶化。这种恶化是由于谐振器所要求的工作模的动态电容的减小所致,通常并不引起所观察的寄生模动态电容的相...
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