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[期刊论文] 作者：Lee Staufer,,
来源：电子质量 年份：2009
通用测试rn电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是M0sCAP和MOSFET结构.此外,利用C-V测昔还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析,包括双极结型品体管(BJ...
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