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[会议论文] 作者：L.Chaabane,M.Sassi,
来源：2009第三届电工产品可靠性与电接触国际会议 年份：2009
低压开关的可靠性由耐久性试验测试得到(CEI-60669-1)。由于分合操作时产生的电弧的存在，重要的问题是其在正常使用中产生过度磨损和腐蚀，或者其它的有害影响。本文对开关电触头在使用寿命期间的腐蚀现象进行实验性研究。对额定电压250V、额定电流16A的触头材料为......
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