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[期刊论文] 作者：NI公司,
来源：国外电子测量技术 年份：2003
本文介绍了分布式测控系统和LabVIEW在"松散结构","紧密联结"的分布式系统中的应用....
[期刊论文] 作者：NI公司,
来源：电子产品世界 年份：2003
本文着重描述虚拟仪器系统的必备组件:功能强大的编程工具、灵活易用的数据采集硬件及个人电脑;以及这样的系统组合能带来的传统仪器所不能比拟的优势....
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：国外电子测量技术 年份：2006
日前NI推出两项新春限时特惠活动,在2006年1月12日至2006年4月30日的时间段里,只要购买NI旗舰产品LabVIEW软件或开发者套件,即可获得超值大礼.具体活动条款如下:...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：国外电子测量技术 年份：2006
传统光学显微镜的目镜和物镜全部由光学透镜和反射镜组成,经历多年的改进,它的技术已相当成熟.视频数字照相机的大量普及,无论CCD或CMOS光学传感器的像素都超过5M,成本在不断...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：国外电子测量技术 年份：2006
PXI开放式仪器总线自从1998年由NI公司开发成功,已取得很大成绩,一直处于快速增长中,据仪器市场调查公司统计,2004年的PXI系统销售数达到5400台,超过VXI系数的2900台,产品从1...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：国外电子测量技术 年份：2006
针对集成电路单元器体数超过百万,功能越来越复杂的数字电路的测量,1980年后期计算机业界成立联合测试工作组(JTAG)研讨一种数字集成电路边界扫描技术,简化传统测试所需的大...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：电子技术应用 年份：2009
2009年8月11日,美国国家半导体公司(National Semiconductor Corporation)(美国纽约证券交易所上市代码:NSM)宣布推出一款全新的纳米功率运算放大器,可提供业界最低功耗552 n...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：电子设计应用 年份：2004
插入式数据采集(DAQ)的标准已经发生了变化.在设计新的NI M系列DAQ设备时,NI不仅升级了工业标准化的DAQ设备的功能,而且还重新设计了整个架构.由于基于全新的NI-STC 2系统控...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：电子技术应用 年份：2009
2009年2月,美国国家仪器有限公司(NI)近日推出了新的LabVIEW图形化开发环境的软件工程工具--LabVIEW单元测试工具包(LabVIEW Unit Test Framework)和LabVIEW桌面执行追踪工具...
[期刊论文] 作者：NI公司,
来源：电子技术应用 年份：2009
美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)近日推出最新基于PXI Express、可验证并测试多媒体设备的数字视频分析仪——NI VideoMASTER 3.0.通过使用NI TestStand...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：国外电子测量技术 年份：2013
1引言rn如今系统越来越为复杂,工程师针对控制系统的系统级测试采取了新的方法.硬件在环(HIL)测试和机械测试单元之间的界限正逐渐变得模糊.将实时仿真融入机械测试系统,有助...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：国外电子测量技术 年份：2007
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[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：国外电子测量技术 年份：2007
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[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：计算机测量与控制 年份：2009
0 引言rn现今,流程型和离散型工业生产企业正面临全球化市场竞争下不断增长的压力:最大化效率,提高产出与质量,缩短新产品投产周期等等.随着与需求对应的工业用机器和工厂测...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：计算机测量与控制 年份：2009
0 引言rn“LabVIEW不仅提供了一套完整的标准编程函数,而且还提供了一组稳固的用户界面组件.”当前,很多药学研究都致力于神经元突触(即脑部细胞之间通信的电化联会)的治疗学...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：电子测量技术 年份：2013
概览rn当您面对各种各样的仪器连接总线时,可能会很难为自己的应用作出最合适的选择.可以说每个总线都有各自的优势和相应的优化技术.因此,请您先问问自己如下4个问题,比较一...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：电子产品世界 年份：2005
NI不断对虚拟仪器系统进行改进,从而能提供更快的开发工具以及和I/O更高度的集成,降低了系统的成本.NI对虚拟仪器最新改进是增加LabⅥEWRT对PⅪ模块化仪器的支持,这些PXI模块...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：电子产品世界 年份：2005
消费者们都希望电子产品的速度更快、功能更强大、易于使用并且更为小型化.测试设备的用户对于仪器厂商也有相同的期望,不仅能扩宽测量的范围,而且能使仪器变得更小巧,速度更...
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：电子产品世界 年份：2005
目前市场上大部分的数据采集设备使用PCI或PXI的同时,USB总线的数据采集设备也增长得很快....
[期刊论文] 作者：NI公司,,
来源：电子产品世界 年份：2005
以下是有关NI USB数据采集(DAQ)设备的一些最为常见的问题:...
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