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On the Accuracy of Imaging on the Nanometer Scale:Geometry versus Material Properties in High Resolu
[会议论文] 作者：Adam Mechler,Janos Kokavecz,Peter Heszler,
来源：IUPAC第三届国际新型材料及其制备学术讨论会(NMS-III)暨第17届国际精细化学和功能高分子学术讨论会(FCFP- 年份：2007
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On the Accuracy of Imaging on the Nanometer Scale:Geometry versus Material Properties in High Resolu
[会议论文] 作者：Adam Mechler,Janos Kokavecz,Peter Heszler,
来源：IUPAC第三届国际新型材料及其制备学术讨论会(NMS-III)暨第17届国际精细化学和功能高分子学术讨论会(FCFP- 年份：2007
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