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[期刊论文] 作者：朱帼才,Pringz.EJ,
来源：半导体情报 年份：1993
研究了Si/Si1-xGex/Si n-p-n异质结双极晶体管（HBT）的结界面处基区杂质外扩散与标定的未掺杂Si1-xGex隔离层的影响，发现，来自重掺杂基区或非突变界面处少量硼的外扩散会在导带中...
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