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[会议论文] 作者:Z.Liao,M.Huijben,Z.Zhong,N.Gauquelin,S.Macke,R.Green,S.van Aert,J.Verbeeck,G.Van Tendeloo,K.Held,G.A.Sawatzky, 来源:The 23rd International Workshop on Oxide Electronics (第23届国际 年份:2016
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