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[期刊论文] 作者：Shigeo MATSUURA(NAKAMURA),Yoshinori TANIMOTO,王怡之,,
来源：无损检测 年份：1990
随着新材料、新技术的发展,人们迫切需要对新的产品进行各种检测。本文介绍的是一种最新型的工业X射线计算机断层分析扫描仪(简称工业X-CT扫描仪)以及一些实用的例子,这种仪...
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