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[会议论文] 作者：Sunan Deng,Haider Butt,Bruno Dlubak,Piran R.Kidambi,Pierre Seneor,Stephane Xavier,Kyle Jiang,
来源：第6届纳米操纵、制造与测量国际会议( the International Conference IEEE 3M-NANO 年份：2016
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