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[期刊论文] 作者：Tao.,S,陈冰,
来源：农业科技译丛（湛江） 年份：1992
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[期刊论文] 作者：李志国,Tao.,J,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1996
报导了一种电徒动失效模型，它能预计脉冲直流和交流应力下的电徒动寿命。实验结果指出，不同金属化系统（Ａｌ－２％Ｓｉ，Ａｌ－４％Ｃｕ／ＴｉＷ，Ｃｕ）显示了相似的失效特性，该特性能由上述模型解释和预测。研究发现，脉冲直流寿......
[会议论文] 作者：Tao. Wang,Zhaolong. Yang,Wei. Wang,Mingsu. Si,Dezheng. Yang,Desheng. Xue,
来源：中国物理学会2015年秋季会议 年份：2015
Large magnetoresistance(MR)effect in magnetic materials has been widely applied from magnetic read head to magnetic memory,which are the critical components...
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