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[期刊论文] 作者：Vikas Varshney,,
来源：中国集成电路 年份：2012
运行在多个内核上的有效分区无缺陷软件对充分发挥多内核系统优势非常关键。调试如此复杂的软件系统会提升复杂程度,因为不能访问子系统接口、总线以及同步处理范例。有了这...
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