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[期刊论文] 作者：Yan Luming,Liang Huaguo,Huang,
来源：电子科学学刊：英文版 年份：2013
In nanoscale technology, transistor aging is one of the most critical problems that impact on the reliability of circuits. Aging sensor is a good online way to...
[期刊论文] 作者：Yan Luming,Liang Huaguo,Huang Zhengfeng,Liu Yanbin,,
来源：Journal of Electronics(China) 年份：2013
In nanoscale technology, transistor aging is one of the most critical problems that impact on the reliability of circuits. Aging sensor is a good online way to...
[会议论文] 作者：Shi Dongxia,史冬霞,Huang Zhengfeng,黄正峰,Yan Luming,严鲁明,Liang Huaguo,梁华国,
来源：2012年中国仪器仪表学术、产业大会 年份：2012
随着集成电路工艺尺寸的不断缩小,辐射引起的软错误已经成为影响芯片可靠性的重要因素之一.为了减轻辐射环境中D触发器受单粒子翻转的影响,本文实现了一种低开销的加固触发器(LHFF).该结构是基于时间延时的异构双模冗余设计,针对单粒子翻转进行防护.Spice模拟结......
[会议论文] 作者：Xu Hui,徐辉,Liang Huaguo,Huang Zhenfeng,梁华国,黄正峰,Li Yang,Yan Luming,Chan Hao,李扬,严鲁明,常郝,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路，而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延。本文提出了带有补偿晶体管的多米诺或门结构，通......
[会议论文] 作者：Xu Hui,徐辉,Liang Huaguo,梁华国,Huang Zhenfeng,黄正峰,Li Yang,李扬,Yan Luming,严鲁明,Chan Hao,常郝,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路，而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延。本文提出了带有补偿晶体管的多米诺或门结构，通过开启补偿电路，使电路在老化以后仍然能够保持其抗干扰能力和传输延时，有效的延长了多米诺电......
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