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[会议论文] 作者：l.chaoliang,m.lihua,y.min,c.shumin,
来源：2014年光子与光学工程国际会议暨西部光子学学术会议 年份：2014
Infrared imaging fault detection which is treated as an ideal,non-contact,non-destructive testing method is applied to the circuit board fault detection.Sin...
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