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[期刊论文] 作者：蔡金燕,单甘霖,封吉平,魏震生,,
来源：微电子测试 年份：1997
在电路印制板性能检测与故障诊断中,利用VXI总线模块仪器作为激励信号源,由于转换系统与被测单元间的不匹配,产生信号变形,影响了电路印制板性能的测试。本文针对这一问题进...
[期刊论文] 作者：梁玉英,蔡金燕,封吉平,黄允华,
来源：微电子学 年份：2000
通过对布尔差分法的剖析 ,得到了组合电路单固定故障测试生成的简化方法。该方法不必进行异或运算 ,只须求解恒等式就能得到组合逻辑电路的测试矢量。多故障的测试码产生可以...
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