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[会议论文] 作者：杨振帮,常传波,袁聪,程艳香,胡敬峰,
来源：第十二届中国太阳级硅及光伏发电研讨会 年份：2016
介绍了研究背景，研究内容，结论，多晶硅铸锭过程中,纯度较低的石英坩埚和氮化硅粉涂层内深能级金属杂质向固态硅锭中扩散,导致边缘晶砖坩埚面产生低少子寿命区,在少子图谱中呈现出所谓的"红区"现象,而在开方线锯去边皮时无法完全切除,流入到电池环节就是所谓的"黑边......
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