搜索筛选:
搜索耗时0.8573秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 77 篇相符的论文内容
发布年度:
[会议论文] 作者：谈恩民,叶宏,张勇,
来源：2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会 年份：2005
构造BIST(Built-InSelf-Test)单元是逻辑电路层次化BIST设计的重要组成部分.对于不同的被测对象CUT(CircuitUnderTest),BIST单元需要进行测试控制器、测试生成器和响应分析器...
[期刊论文] 作者：刘金涛,刘伟,谈恩民,,
来源：电子测量与仪器学报 年份：2011
在通用图像采集IP核的基础上，提出了一种能更好地应用于自动聚焦等相关算法的IP核。充分利刚图像数据中的引导码完成了软同步设计，根据算法进行需求分析，只提取图像信号中的灰度......
[期刊论文] 作者：谈恩民,Song Shengdong,Shi Wenkang,
来源：高技术通讯：英文版 年份：2007
...
[期刊论文] 作者：谈恩民,梁晓琳,刘建军,
来源：计算机系统应用 年份：2008
提出了一种确定模式BIST的低功耗设计方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试矢...
[期刊论文] 作者：谈恩民, 张欣然, 王存存,,
来源：电测与仪表 年份：
针对萤火虫算法(FA)优化最小二乘支持向量机(LSSVM)的结构参数时,存在早熟和后期收敛速度慢等问题,提出了一种云模型改进型萤火虫算法(CCAFA)优化LSSVM参数的算法。首先,利用...
[期刊论文] 作者：柴华, 谈恩民, 江志强,,
来源：大众科技 年份：2012
随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SoC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,使得SoC的测试变得越来越困难。IEEE Std 1500给IP核提供商与用户之间提供了标准...
[期刊论文] 作者：谈恩民,王存存,张欣然,,
来源：电子测量与仪器学报 年份：2017
为了提高模拟电路软故障诊断、识别的正确分类率,提出了一种提升小波变换和混沌萤火虫算法（CFA）优化LSSVM参数的模拟电路故障诊断方法。首先对采集到的被测电路输出电压信号进...
[期刊论文] 作者：谈恩民,朱峰,尚玉玲,,
来源：国外电子测量技术 年份：2015
测试功耗、测试时间是SoC测试优化中的两个测试目标,它们之间存在相互影响的关系。在多目标优化过程中,进化算法对于解决多目标优化问题拥有比较好的优化效果,因此各种进化算...
[期刊论文] 作者：谈恩民,宋胜东,施文康,,
来源：微电子学与计算机 年份：2007
提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的内建自测试BIST（built-in self-test）设计方法，该方法在原始线性反馈移位寄存器LFSR（linear feedback shift register...
[期刊论文] 作者：谈恩民,马江波,秦昌明,
来源：微电子学与计算机 年份：2011
在系统芯片SoC测试中,存储器的可靠性测试是一项非常重要内容.IEEE Std 1500是专门针对嵌入式芯核测试所制定的国际标准,规范了IP核提供者和使用者之间的标准接口.基于此标准...
[期刊论文] 作者：谈恩民,柴华,江志强,
来源：计算机测量与控制 年份：2012
超大规模集成电路和超深亚微米技术的快速发展，促使了系统芯片（SystemonChip，SoC）的产生，同时在SoC中也集成了越来越多的嵌入式存储器，因此嵌入式存储器对SoC芯片的整体性能有非常......
[期刊论文] 作者：谈恩民,朱峰,尚玉玲,,
来源：国外电子测量技术 年份：2015
测试功耗、测试时间是SoC测试优化中的两个测试目标，它们之间存在相互影响的关系。在多目标优化过程中，进化算法对于解决多目标优化问题拥有比较好的优化效果，因此各种进化算法......
[期刊论文] 作者：蒋继刚,谈恩民,姚丽婷,,
来源：国外电子测量技术 年份：2010
本文介绍一种内建自测试总体优化的测试生成方法,首先对细胞自动机的特点进行了介绍,还分析了细胞自动机结构的邻居关系和加权测试序列相关性,最后本文用多目标遗传算法来设...
[期刊论文] 作者：赵丽丽,谈恩民,王海超,,
来源：国外电子测量技术 年份：2014
片上系统SOC测试时间很大程度上取决于Wrapper和测试访问机制TAM（test access mechanism）的设计。为了优化SOC测试时间,主要对Wrapper和TAM进行设计,降低单个核的测试应用时间...
[期刊论文] 作者：倪健华,谈恩民,姚普粮,
来源：国外电子测量技术 年份：2015
随着我国国民经济的高速发展，对电力监测仪提出了更高的要求。针对以往电力监测仪，存在测量精度不够，软硬件设计复杂问题。提出一种基于ATT7022E与STM32的多功能电力监测仪设计......
[会议论文] 作者：谈恩民[1]叶宏[2]张勇[2],
来源：2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会 年份：2005
构造BIST(Built-InSelf-Test)单元是逻辑电路层次化BIST设计的重要组成部分.对于不同的被测对象CUT(CircuitUnderTest),BIST单元需要进行测试控制器、测试生成器和响应分析器...
[会议论文] 作者：邵根富,谈恩民,陈尚松,
来源：全国第六届电子测量与仪器学术报告会 年份：2000
文章探讨了自动测试系统发展中的问题,提出了将计算机外设今后广泛应用的IEEE1394总线用于自动测试系统的方案,介绍了IEEE1394总线的技术特点,讨论了将它用于自动检测领域的...
[会议论文] 作者：谈恩民,玄立伟,蒋志刚,
来源：2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会 年份：2005
随着半导体工业尤其是微电子技术的飞速发展,传统的板级测试方案面临越来越多的困难.边界扫描技术是目前广泛使用的板级互连测试解决方案.本文在已有的边界扫描测试硬件系统的基础上,设计了一个边界扫描测试软件系统.该软件系统使用VisualC++实现,通过计算机串......
[期刊论文] 作者：谈恩民,阮济民,黄顺梅,
来源：中国测试 年份：2022
针对现有模拟电路故障诊断方法的人工神经网络、支持向量机(SVM)等人工智能算法需要大量的训练样本和时间的问题,该文提出一种利用矩阵特征分析进行模拟电路故障诊断方法.该方法建立一个输出响应方阵,当电路发生故障时,方阵中的元素会发生变化,根据矩阵理论,利......
[期刊论文] 作者：韦世宽, 雷加, 谈恩民, 王冬,,
来源：电子测量与仪器学报 年份：2011
针对目前光伏最大功率点跟踪（MPPT）技术研究和应用现状,根据控制算法的不同分类,选取固定电压法、扰动观察法、增量电导法作为研究对象。分析各种控制算法的实现原理,并且在反......
相关搜索：
