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[会议论文] 作者：单书畅,胡瑜,李晓维,
来源：第六届中国测试学术会议 年份：2010
随着半导体工艺技术的不断进步，单个芯片上可集成的处理器核越来越多，处理器技术正逐步进入多核时代．然而，晶体管特征尺寸的不断减小以及阈值电压的不断降低，使得处理器的可靠性问......
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