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[期刊论文] 作者：虞孝栋,吴道怀,唐福娣,谭浩然,
来源：物理学报 年份：2004
本文介绍一种测量碳化硅半导体少数载流子寿命的方法,叙述有关的原理和测试设备,并就对测试结果有极大影响的谐振干扰、点接触的电学性质和电发光特性等问题进行了试验。提出...
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