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[期刊论文] 作者:周震一, 来源:电子工业专用设备 年份:2008
近年来IC工业的快速发展对于自动测试设备(ATE)在架构、成本等方面提出了挑战。面对需求,ADVANTEST提出了开放架构测试平台的标准——OPENSTAR以及基于此标准的T2000 SoC测试系...
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