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[期刊论文] 作者：钟春良,董师润,喻利花,许俊华,,
来源：表面技术 年份：2007
采用磁控反应溅射法制备了一系列不同Al含量的Cr1-xAlxN涂层，通过能谱仪（EDS）测试涂层的成分，x射线衍射仪（XRD）表征涂层的微结构，扫描电镜（SEM）观察涂层的表面形貌，研究了Al含量对涂层......
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