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[期刊论文] 作者：颜涛,姚淑华,刘宏,王继扬,左致远,夏宗仁,,
来源：稀有金属 年份：2009
以Y36°钽酸锂(LiTaO3,LT)晶片为研究对象,通过对同成分LT晶片(CLT)和深度还原黑色LT晶片(BLT)的比较研究,探讨了表面还原处理对钽酸锂晶片电学性能的影响。X射线衍射研究显...
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