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[期刊论文] 作者：尚俊玲,吴利翔,
来源：理化检验:物理分册 年份：2021
采用扫描电镜(SEM)、能谱仪(EDS)分别在10kV和20kV加速电压下,对SiC/W扩散偶中钨元素的面分布和线分布进行了分析。结果表明:在10kV加速电压下,钨元素只能激发出M线系,钨元素...
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